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OverviewErganzend zu Vorlesung, zu Rechenubungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewahlter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Fur Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zuruck gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt fur Schaltdiode, Kapazitatsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstarker und Optokoppler. Full Product DetailsAuthor: Peter Baumann (University of Aberdeen)Publisher: Springer Vieweg Imprint: Springer Vieweg Edition: 2012 ed. Weight: 0.259kg ISBN: 9783834824943ISBN 10: 3834824941 Pages: 135 Publication Date: 29 September 2012 Audience: General/trade , General Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: In stock  We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately. Language: German Table of ContentsReviewsAuthor InformationProf. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter fur das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen. Tab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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