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Der Autor entwickelt ein Verfahren zum quantitativen Nachweis von metallischen Spurenelementen, das es möglich macht, Oberflächenbelegungen auf GaAs mit sehr geringen Konzentrationen quantitativ nachzuweisen.

Full Product Details

Author:   Frank Schröder-Oeynhausen
Publisher:   Deutscher Universitatsverlag
Imprint:   Deutscher Universitatsverlag
Edition:   1997 ed.
Dimensions:   Width: 14.80cm , Height: 0.80cm , Length: 21.00cm
Weight:   0.197kg
ISBN:  

9783824420919

ISBN 10:   3824420910
Pages:   138
Publication Date:   23 September 1997
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print  
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Language:   German

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Dr. Frank Schröder-Oeynhausen studierte Physik an der Universität zu Köln und Betriebswirtschaft an der FernUniversität Hagen. Er ist Technologieberater beim VDI in Düsseldorf.

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