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OverviewIn dem Lehrbuch werden die systemtheoretischen Grundlagen der Messtechnik behandelt, wobei jene Verfahren im Mittelpunkt stehen, die allen Messsystemen gemeinsam sind. Die Autoren beschreiben das physikalische Verhalten von Messsystemen (mathematisches Modell), die Verbesserung ihrer statischen und dynamischen Eigenschaften, die Messung stochastischer Gr en, die Messdatenerfassung und -verarbeitung sowie die Erfassung frequenzanaloger Signale. Die 8. Auflage wurde gr ndlich berarbeitet, aktualisiert und erg nzt, u. a. durch zus tzliche Beispiele. Full Product DetailsAuthor: Fernando Puente Le N , Uwe KienckePublisher: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Imprint: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K Edition: 8th 8. Aufl. 2011. Gr Ndlich Berar ed. Dimensions: Width: 15.60cm , Height: 2.20cm , Length: 23.40cm Weight: 0.594kg ISBN: 9783642202384ISBN 10: 3642202381 Pages: 425 Publication Date: 24 August 2011 Audience: General/trade , General Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: In stock We have confirmation that this item is in stock with the supplier. It will be ordered in for you and dispatched immediately. Table of ContentsReviewsAus den Rezensionen zur 8. Auflage: ... In der 8. Auflage des etablierten universit ren Lehrbuchs wurde das didaktische Konzept weiter ausgereift und um praxisrelevante Beispiele erg nzt. ... Angesprochen sind in 1. Linie Studierende der Ingenieurwissenschaften und der Informatik ... (Oliver Mitesser, in: ekz-Informationsdienst, 2012, Vol. 2012/07) Author InformationProf. Dr.-Ing. Fernando Puente Le n lehrt und forscht seit 2008 am Institut f r Industrielle Informationstechnik (IIIT) des Karlsruher Instituts f r Technologie (KIT). Nach Studium und Promotion arbeitete er bei der Firma DS2 im Bereich der Modem-Entwicklung. Von 2003 bis 2008 war er als Professor f r Verteilte Messsysteme an der Technischen Universit t M nchen t tig. Seine Forschungsschwerpunkte liegen in der Bild- und Signalverarbeitung, der Mess- und Automatisierungstechnik, der Informationsfusion, der Mustererkennung sowie der Architektur und Analyse verteilter Systeme. Tab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |