Overview

Ta kompleksowa książka oferuje doglębną eksplorację podstawowych metodologii dyfrakcji rentgenowskiej pojedynczych krysztalów (SCXRD) i krystalografii strukturalnej. Zapewnia jasną, krok po kroku ścieżkę od pozyskania surowych danych dyfrakcyjnych do ostatecznej walidacji wyrafinowanych struktur krystalicznych. Począwszy od zasad gromadzenia danych i indeksowania odbic, książka prowadzi czytelników przez zawilości obróbki danych, oceny jakości i określania symetrii. Szczególny nacisk polożono na najlepsze praktyki w zakresie stosowania analizy grup przestrzennych, udoskonalania modeli atomowych i zapewniania wiarygodności wyników strukturalnych.Zaprojektowany, aby slużyc zarówno jako narzędzie dydaktyczne, jak i praca referencyjna, ten tom jest przeznaczony dla absolwentów, naukowców i profesjonalistów w dziedzinie krystalografii, nauki o materialach i nauk molekularnych.

Full Product Details

9786209471896

Table of Contents

Reviews

Author Information

Tab Content 6

Countries Available