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Overview"Die Elektronenmikroskopie als Methode zur direkten Abbildung submikroskopi- scher Strukturen hat in den letzten Jahrzehnten auf nahezu allen Gebieten der naturwissenschaftlichen, technischen und medizinischen Forschung auBerordentlich an Bedeutung gewonnen. Im vorliegenden Buch wird iiber den Einsatz der Elek- tronenmikroskopie in der Festkorperphysik lind in der Werkstofforschung be- richtet. Im Hinblick darauf, daB die moderne Werkstofforschung ihre wesentlichen Grundlagen in der Festkorperphysik hat, wurde der Kurztitel ""Elektronenmikro- skopie in der Festkorperphysik"" gewahlt. Das Buch ist in die beiden Teile ""Elektronenmikroskopische Untersuchungs- verfahren"" und ""Anwendungen in der Festkorperphysik"" gegliedert. Im erst en Teil werden die Moglichkeiten und Grenzen der in der Festkorperphysik eingesetzten elektronenmikroskopischen Untersuchungsverfahren beschrieben, wobei die zu- verlassige Interpretation elektronenmikroskopischer Aufnahmen (Bildentstehung, Bildauswertung) besondere Beachtung findet. Im Anwendungsteil des Buches sind - ohne Anspruch auf Vollstandigkeit zu erheben - diejenigen Gebiete der Fest- korperphysik und Werkstofforschung erfaBt, in denen die Elektronenmikroskopie einen wesentlichen Beitrag leisten kann. Neben einigen besonderen Ergebnissen aus verschiedenen Laboratorien in aller Welt konnte bei der Auswahl der zu be- handelnden Themen und Untersuchungsbeispiele weitgehend auf die im Institut der Autoren durchgefiihrten Arbeiten und daraus vorliegendem Bildmaterial zuriickgegriffen werden." Full Product DetailsAuthor: H. Bethge , J. HeydenreichPublisher: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Imprint: Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K Edition: Softcover reprint of the original 1st ed. 1982 Dimensions: Width: 17.00cm , Height: 2.90cm , Length: 24.40cm Weight: 0.967kg ISBN: 9783642932120ISBN 10: 3642932126 Pages: 564 Publication Date: 17 March 2012 Audience: Professional and scholarly , Professional & Vocational Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: Manufactured on demand  We will order this item for you from a manufactured on demand supplier. Language: German Table of ContentsI: Elektronenmikroskopische Untersuchung verfahren.- 1. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 2. Konventionelle Elektronenmikroskopie: Bildentstehung.- 3. Hochauflösungs-Elektronenmikroskopie.- 4. Höchstspannungs-Elektronenmikroskopie.- 5. Raster-Elektronenmikroskopie: Elektronenoptische und gerätetechnische Grundlagen.- 6. Raster-Elektronenmikroskopie: Physikalische Grundlagen der Kontrastentstehung.- 7. Indirekte Oberflächenabbildung durch Abdruck- und Dekorationstechnik.- 8. Spezielle Verfahren zur Direktabbildung von Oberflächen: Emissions-Elektronenmikroskopie, Spiegel-Elektronenmikroskopie.- 9. Analytische Elektronenmikroskopie: Kombination von abbildenden und spektrometrischen Methoden.- 10. Bildverarbeitung mit optischen und elektronischen Verfahren.- II: Anwendungen in der Festkörperphysik.- 11. Gitterdefekt-Abbildung durch elektronenmikroskopischen Beugungskontrast.- 12. Elementare Vorgänge bei der plastischen Verformung.- 13. Mikroprozesse des Bruches.- 14. Elektronenmikroskopische Fraktographie.- 15. Morphologie der Polymere.- 16. Defekte in Halbleitern und Bauelementestrukturen.- 17. Molekulare Prozesse auf Kristalloberflächen.- 18. Wachstum und Struktur dünner Schichten.- 19. Versetzungsstrukturen in Korngrenzen und Phasengrenzen.- 20. Domänenstruktur ferroelektrischer und ferromagnetischer Festkörper.- Anhang 1: Theoretische Grundlagen des elektronenmikroskopischen Beugungskontrastes (einschl. Computersimulation der Abbildung von Kristalldefekten).- K. Scheerschmidt.- Anhang 2: Durchstrahlungs-Elektronenmikroskopie: Präparationstechnischer Überblick.- H. Bartsch.- Literaturübersicht zur Elektronenmikroskopie.ReviewsAuthor InformationTab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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