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OverviewFull Product DetailsAuthor: Titu-Marius I. BăjenescuPublisher: Springer Fachmedien Wiesbaden Imprint: Springer Vieweg Edition: 1. Aufl. 2020 Dimensions: Width: 16.80cm , Height: 3.60cm , Length: 24.00cm Weight: 1.482kg ISBN: 9783658221775ISBN 10: 3658221771 Pages: 639 Publication Date: 25 January 2020 Audience: Professional and scholarly , Professional & Vocational Format: Hardback Publisher's Status: Active Availability: Manufactured on demand  We will order this item for you from a manufactured on demand supplier. Language: German Table of ContentsZuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.ReviewsAuthor InformationTitu-Marius I. Băjenescu ist emeritierter Universitätsprofessor und war zuletzt als unabhängiger Berater in den Bereichen Telekommunikation, Zuverlässigkeit, Qualität und Sicherheit elektronischer Systeme tätig. Er hat an zahlreichen europäischen Universitäten geforscht und gelehrt und für seine Leistungen zwei Ehrendoktortitel erhalten. Er ist Autor mehrerer Bücher zum Thema elektronischer Bauelemente in französischer, rumänischer, englischer und deutscher Sprache. Tab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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