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OverviewFull Product DetailsAuthor: Johannes G LavenPublisher: Springer Fachmedien Wiesbaden Imprint: Springer Vieweg Edition: 2014 ed. Dimensions: Width: 14.80cm , Height: 1.90cm , Length: 21.00cm Weight: 0.454kg ISBN: 9783658073893ISBN 10: 3658073896 Pages: 314 Publication Date: 21 October 2014 Audience: Professional and scholarly , Professional & Vocational Format: Paperback Publisher's Status: Active Availability: Manufactured on demand  We will order this item for you from a manufactured on demand supplier. Language: German Table of ContentsEinleitung.- Grundlagen der Protonendotierung.- Durchführung und Charakterisierungsmethoden.- Ladungsträgerprofile und Parameterabhängigkeiten.- Strahlungsinduzierte Störstellen.- Modellierung.- Zusammenfassung und Ausblick.- Anhang.ReviewsAuthor InformationJohannes G. Laven studierte Physik an der Westfälischen Wilhelms-Universität Münster, ab 2007 forschte er an der Technischen Fakultät der Friedrich-Alexander Universität Erlangen-Nürnberg zum Thema Protonendotierung in kristallinem Silizium. Seit 2011 arbeitet er als Entwicklungsingenieur für IGBTs und Leistungsdioden bei einem führenden Halbleiterhersteller. Tab Content 6Author Website:Countries AvailableAll regions |
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