Overview

Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.

Full Product Details

Author:   P. P. Ewald ,  L. Langstein ,  C. von Noorden ,  C. von Pirquet
Publisher:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Imprint:   Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. K
Edition:   Softcover reprint of the original 1st ed. 1923
Volume:   6
Dimensions:   Width: 15.20cm , Height: 1.80cm , Length: 22.90cm
Weight:   0.499kg
ISBN:  

9783642471582

ISBN 10:   3642471587
Pages:   328
Publication Date:   01 January 1923
Audience:   Professional and scholarly ,  Professional & Vocational
Format:   Paperback
Publisher's Status:   Active
Availability:   In Print  
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Language:   German

Table of Contents

1. Kapitel. Von der Atomtheorie.- 2. Kapitel. Kristallographische Grundbegriffe.- 3. Kapitel. Kristallographische Strukturtheorie.- 4. Kapitel. Interferenz.- 5. Kapitel. Über RÖntgenstrahlen.- 6. Kapitel. Übersicht über die experimentellen Verfahren.- 7. Kapitel. Braggsches Verfahren; Spektroskopie.- 8. Kapitel. Interferenz in Gittern mit Basis; Strukturermittlung aus Braggschen Aufnahmen.- 9. Kapitel. Die Lauemethode und die Bezifferung der Lauebilder.- 10. Kapitel. Die Entstehung der Lauebilder und die Strukturkontrolle mit ihnen.- 11. Kapitel. Das Debye-Scherrer-Verfahren.- 12. Kapitel. Vollständige Diagramme, Faserstruktur, Metallbau.- 13. Kapitel. Darstellung der erforschten Strukturen.- 14. Kapitel. Gittergeometrie.- 15. Kapitel. Ionengitter; Isomorphic; Mischkristalle.- 16. Kapitel. Chemische Gesichtspunkte zur Deutung der Kristallstrukturen.- 17. Kapitel. Gitterkräfte und stoffliche Eigenschaften.- Ergänzendes Schlußwort.- Note I. Zur Gittergeometrie: Das reziproke Gitter.- Note II Die Interferenzbedingungen im Translationsgitter.- Note III. Die Bezifferung der Laue-Aufnahmen mittels gnomonischer Projektion.- Note IV. Debye-Scherrer-Verfahren und quadratische Form.- Note V Die Bezifferung der Drehkristallaufnahmen.- Note VI. Die Geometrie der Gitter mit Basis.- Note VII Der Strukturfaktor.- Note VIII. Die photographische Wirkung der RÖntgenstrahlen.- Note IX. Zusammenstellung über Strukturen.- Literaturangaben.

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